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Bibliographic Metadata
Title	Application of modern magnetic resonance techniques to the characterization of point defects in semi-insulating III-V semiconductors
Author	Spaeth, Johann-Martin
Document Type	Article in a collected edition
URN	urn:nbn:de:hbz:466:2-6282
Published in	Semi-insulating III - V Materials: Hakone 1986. Year 1986. Tokyo, 1986, Pg. 299-304

Files
Application of modern magnetic resonance techniques to the characterization of point defects in semi-insulating III-V semiconductors [0.41 mb]

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Reference	Universitätsbibliothek Paderborn

Classification
Besondere Sammlungen → Veröffentlichungen der Universität → Fakultät für Naturwissenschaften → Department Physik
Klassifikation (DDC) → Naturwissenschaften und Mathematik → Physik → Physik