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Titelaufnahme

Titel
Application of modern magnetic resonance techniques to the characterization of point defects in semi-insulating III-V semiconductors
AutorSpaeth, Johann-Martin In der Gemeinsamen Normdatei der DNB nachschlagen
Erschienen in
Entstehung2009
SpracheEnglisch
DokumenttypAufsatz in einem Sammelwerk
URNurn:nbn:de:hbz:466:2-6282 Persistent Identifier (URN)
Dateien
Application of modern magnetic resonance techniques to the characterization of point defects in semi-insulating III-V semiconductors [0.41 mb]
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