Sprenger, Alexander: Testinstrumente und Testdatenanalyse zur Verarbeitung von Unsicherheiten in Logikblöcken hochintegrierter Schaltungen : von Alexander Sprenger ; Erster Gutachter: Prof. Dr. Sybille Hellebrand, Zweiter Gutachter: Prof. Dr. Marco Platzner. Paderborn, 2023
Inhalt
- Einleitung
- Einführung in den Test von hochintegrierten Schaltungen
- Defekte
- Alterungseffekte
- Fehlermodelle
- Test
- Einführung in künstliche neuronale Netze
- Testantwortkompaktierung für den Hochgeschwindigkeitstest
- Stand der Technik
- Modulare Kompaktierung
- Gruppierungsalgorithmen
- Ausnutzung von X-Pfaden und essenziellen Prüfpfaden
- Experimente
- Kompaktierungsrate vs. Prüfgruppengröße
- Auswertung der Gruppierungsalgorithmen
- Einfluss der Prüfpfadkonfiguration
- X-Pfad-Blockierung und Pfad-Bypass für essenzielle Prüfpfade
- Fazit
- Hybride Kompaktierung
- Verbindungstest in Logik-Schaltungen
- Stand der Technik
- Verhalten von Übersprechen und Prozessvariation unter Berücksichtigung des Arbeitspunktes
- Konfiguration des künstlichen neuronalen Netzes
- Merkmalsextraktion
- Experimente
- Fazit
- Fazit
- Ausblick
- Symbolverzeichnis
- Abbildungsverzeichnis
- Tabellenverzeichnis
- Algorithmenverzeichnis
- Abkürzungsverzeichnis
- Literaturverzeichnis
- Eigene Konferenz- und Zeitschriftenbeiträge
- Eigene Workshopbeiträge
- Betreute wissenschaftliche Arbeiten