TY  - THES
AB  - Strahlungs-tolerantes Rechnen auf FPGAs ist ein wichtiges Forschungsfeld geworden, da die Nutzung von FPGAs in Weltraummissionen stark angestiegen ist. Verschiedene Härtetechniken gegen Strahlung auf Transistor- und Entwurfsebene wurden in der Vergangenheit genutzt um Fehler, insbesondere Single-Event-Upsets welche durch ionisierende Strahlung während Weltraummissionen entstehen, abzuschwächen. Redundanz ist hierbei die am meisten benutzte Technik um solchen Fehlern entgegen zu wirken. Der traditionelle Hardwareentwurfsansatz benutzt statische Strukturen und nimmt somit zusätzliche Kosten in Form von größerer Chipfläche, Latenz und Leistungsaufnahme in Kauf. Diese Strukturen wurden entworfen um auch die ungünstigsten Strahlungsbedingungen zu überstehen. Jedoch haben Experimente zur Intensität der Strahlung im Weltraum ergeben, dass die Strahlungsintensität während einer Satellitenmission starken Schwankungen unterworfen ist. Daher resultiert die Benutzung von statisch allokierten redundanten Strukturen in einer Verschwendung von Ressourcen und Rechenleistung, da während Zeiten mit niedriger Strahlungsintensität geringere Ansprüche an die Fehlertoleranz gestellt werden können. Da mehrfach redundant ausgelegte Systeme hohe Kosten verursachen, ist der beste Ansatz um den Kompromiss aus Zuverlässigkeit und Leistungsfähigkeit zu erhalten der, den FPGA dynamisch, abhängig von der Strahlungsintensität, auf die benötigte Redundanz zu rekonfigurieren. Glücklicherweise erlauben FPGAs diese Art von Flexibilität durch ihre Fähigkeit zur Laufzeit neu konfiguriert zu werden. Dieses Konzept zur Laufzeit-Rekonfiguration von FPGAs zur Steuerung der Zuverlässigkeit wird in dieser Arbeit "Dynamic Reliability Management" (DRM) genannt.
AU  - Anwer, Jahanzeb
CY  - Paderborn
DA  - 2017
DO  - 10.17619/UNIPB/1-168
DP  - Universität Paderborn
LA  - eng
N1  - Tag der Verteidigung: 20.07.2017
N1  - Universität Paderborn, Dissertation, 2017
PB  - Veröffentlichungen der Universität
PY  - 2017
SP  - 1 Online-Ressource (xii, 104 Seiten)
T2  - Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
TI  - Dynamic reliability management
UR  - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:hbz:466:2-29165
Y2  - 2025-01-08T02:43:30
ER  -