TY  - THES
AB  - Die steigende Integrationsdichte moderner Fertigungsprozesse erlaubt es, immer komplexere Funktionen auf immer kleinerer Fläche unterzubringen. Gleichzeitig birgt sie aber auch das Risiko, "schwache" Schaltungsstrukturen zu erzeugen. Diese verursachen zu Beginn der Lebensdauer unter Betriebsbedingungen kein messbares Fehlverhalten, können sich jedoch schnell zu einem echten Defekt weiterentwickeln [...]. Beobachtbar werden solche Strukturen dennoch über subtile Abweichungen im zeitlichen Verhalten, welche als kleine Verzögerungsfehler modelliert werden können. Zur Erkennung dieser Fehler kann der Hochgeschwindigkeitstest verwendet werden. Hierbei wird die zu testende Schaltung übertaktet [...]. Der Hochgeschwindigkeitstest alleine reicht jedoch nicht aus, um einige der Herausforderungen moderner Fertigungsprozesse beim Test zu meistern. In dieser Arbeit wird daher ein Konzept für einen eingebauten Selbsttest vorgestellt, bei welchem sämtliche für den Hochgeschwindigkeitstest benötigten Infrastrukturen auf der Schaltung selbst untergebracht werden. Dadurch werden periodische Tests ermöglicht, welche die Veränderungen der Schaltung zu einem möglichen Defekt verfolgen und rechtzeitig erkennen können. Dazu werden in dieser Arbeit zweierlei Herausforderungen adressiert und Lösungen vorgestellt. Zum einen wird die Menge an benötigten Testfrequenzen minimiert, zum anderen werden Randbedingungen für die Schaltungssynthese erzeugt, um spezialisierte Prüfpfade zu bilden. Diese, in Kombination mit einem sehr einfachen Maskierungssystem, mindern die Auswirkungen des Übertaktens und erlauben einfachere Verfahren zur X-toleranten Kompaktierung. Ausführliche Simulationen zeigen, [...] dass sich der Hochgeschwindigkeitstest als eingebauter Selbsttest kostengünstig realisieren lässt.
AU  - Kampmann, Matthias
CY  - Paderborn
DA  - 2020
DO  - 10.17619/UNIPB/1-888
DP  - Universität Paderborn
LA  - ger
N1  - Tag der Verteidigung: 20.02.2020
N1  - Universität Paderborn, Dissertation, 2020
PB  - Veröffentlichungen der Universität
PY  - 2020
SP  - 1 Online-Ressource (xi, 197 Seiten)
T2  - Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
TI  - Eingebauter Selbsttest für kleine Verzögerungsfehler
UR  - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:hbz:466:2-36468
Y2  - 2026-01-16T13:53:08
ER  -