TY  - THES
AB  - Immer größere Anforderungen an die Leistungsfähigkeit von Mikrochips führen zu Halbleitertechnologien mit immer kleiner werdenden Strukturgrößen. Anwendungen mit hohen Ansprüchen an Sicherheit und Zuverlässigkeit, wie z.B. das autonome Fahren, treiben gleichzeitig die Anforderungen an den Test hochintegrierter Schaltungen an. Während des gesamten Lebenszyklus eines Mikrochips kommt es zu Unsicherheiten im Zeitverhalten. So können z.B. schwache Schaltungsstrukturen, Alterungseffekte oder Prozessvariationen zu einer Veränderung des Zeitverhaltens führen. Während diese Unsicherheiten nicht zu einer Veränderung des funktionalen Verhaltens führen müssen, können sie jedoch zu einem Zuverlässigkeitsproblem führen. Mit der modularen und der hybriden Kompaktierung werden in dieser Arbeit zwei Testinstrumente vorgestellt, die für die X-tolerante Testantwortkompaktierung im eingebauten Hochgeschwindigkeitstest verwendet werden können. Eine Herausforderung für die Testantwortkompaktierung während des Hochgeschwindigkeitstests ist die hohe und variierende X-Rate an den Ausgängen der zu testenden Schaltung. Durch die Einteilung der Schaltungsausgänge in Prüfgruppen und die separierte Kompaktierung der Prüfgruppen mithilfe von stochastischen Kompaktierern, können die vorgestellten Verfahren diese hohen und variierenden X-Raten verarbeiten. Für den Umgang mit Unsicherheiten auf Verbindungsleitungen der Logik-Schaltung wird ein Verfahren zur Unterscheidung von Übersprechen und Prozessvariation vorgestellt. In aktuellen Halbleitertechnologien kommt es vermehrt zu parasitären Koppelkapazitäten zwischen den Verbindungsleitungen. In dem vorgestellten Verfahren werden künstliche neuronale Netze trainiert, um die Schaltungen in fehlerfrei und fehlerhaft zu klassifizieren.
AU  - Sprenger, Alexander
CY  - Paderborn
DA  - 2023
DO  - 10.17619/UNIPB/1-1787
DP  - Universität Paderborn
LA  - ger
N1  - Tag der Verteidigung: 13.07.2023
N1  - Universität Paderborn, Dissertation, 2023
PB  - Veröffentlichungen der Universität
PY  - 2023
SP  - 1 Online-Ressource (xi, 160 Seiten)
T2  - Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
TI  - Testinstrumente und Testdatenanalyse zur Verarbeitung von Unsicherheiten in Logikblöcken hochintegrierter Schaltungen: von Alexander Sprenger ; Erster Gutachter: Prof. Dr. Sybille Hellebrand, Zweiter Gutachter: Prof. Dr. Marco Platzner
UR  - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:hbz:466:2-45493
Y2  - 2026-01-14T08:29:53
ER  -