TY  - THES
AB  - Die differentielle Phasenkontrastmikroskopie (DPC) ist eine Technik in der Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM), die die Abbildung und Quantifizierung von elektrischen Feldern in Festkörpern ermöglicht. In Verbindung mit der modernen Korrektur von Linsenfehlern können elektrische Felder mit subatomarer Auflösung untersucht werden. Dies macht STEM-DPC zu einer vielversprechenden Methode, um die Verteilung des elektrischen Feldes und der Ladungsdichte einzelner Atome genau zu bestimmen. Die Anforderungen an eine quantitative DPC-Mikroskopie sind jedoch hoch, da die messbare Feldverteilung durch zahlreiche Faktoren beeinflusst ist. In dieser Arbeit werden verschiedene Einflüsse auf die DPC-Abbildung, wie z.B. Linsenfehler, dynamische Beugungseffekte, Bildrauschen, Probenverkippung sowie der verwendete Detektor, experimentell und mit Hilfe von Multislice-Simulationen untersucht. Mit Fokus auf die DPC-Abbildung mit einem segmentierten Detektor wird gezeigt, wie sich einzelne Einflüsse auf die DPC-Messung auswirken und wie sie leicht erkannt werden können. Es werden neue Methoden zur Minimierung der Einflüsse vorgestellt, z.B. ein Verfahren zur Ermittlung des optimalen Fokus sowie ein Verfahren zur Reduzierung des Einflusses der Verwendung von segmentierten Detektoren. Abschließend werden Anwendungsbeispiele der DPC-Mikroskopie an elektrischen Feldern in Silizium, Indiumarsenid sowie defektfreiem und defektbehaftetem zweidimensionalen Wolframdiselenid gezeigt.
AU  - Bürger, Julius
CY  - Paderborn
DA  - 2024
DO  - 10.17619/UNIPB/1-1985
DP  - Universität Paderborn
LA  - eng
N1  - Tag der Verteidigung: 12.04.2024
N1  - Universität Paderborn, Dissertation, 2024
PB  - Veröffentlichungen der Universität
PY  - 2024
SP  - 1 Online-Ressource (ii, 301 Seiten)
T2  - Department Physik
TI  - Contributions to differential phase contrast imaging
UR  - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:hbz:466:2-51885
Y2  - 2026-01-13T22:26:45
ER  -