TY  - THES
A3  - Belli, Fevzi
A3  - Dumke, Reiner
AB  - Testen ist der Prozess zur Überprüfung eines betrachteten Systems, ob dieses sich wie durch den Benutzer vorgesehen verhält. Modell-basiertes Testen wendet Modelle zur Generierung von Testfällen an. Zur Testfall-Generierung benutzt modell-basiertes Mutation Testen (MBMT) zusätzlich Fehlermodelle, sogenannte Mutanten, welche durch die Anwendung der Mutationsoperatoren auf dem ursprünglichen Modell erzeugt werden. Ein Problem mit MBMT entsteht durch Mutanten, die äquivalent zu dem ursprünglichen Modell sind (äquivalente Mutanten) und mehrfache Mutanten, welche die gleichen Fehler modellieren. Diese Mutanten müssen eliminiert werden, sie verursachen unnötige Tests und erhöhen damit die Kosten. Ein weiteres Problem des MBMT ist die Notwendigkeit für die Testgenerierung, ein Mutant mit dem ursprünglichen Modell zu vergleichen. Außerdem kann die Verwendung eines einzigen festen Modells aus einem Menge von verschiedenen strukturell, d.h. morphologisch, unterschiedlichen Modellen, welche ein gegebenes System beschreiben, auch als ein Problem mit MBMT betrachtet werden. Diese Arbeit schlägt einen ereignis-basierten Ansatz für MBMT vor, der nicht auf einzelne Ereignisse und ein einziges Modell fixiert ist, sondern auf Sequenzen von Ereignissen der Länge k1 arbeitet. Dabei wird eine Sequenz von Modellen hergeleitet, die von dem ursprünglichen Modell durch Variation ihrer Morphologie basierend auf die Sequenzlänge k abgeleitet sind. Der Ansatz verwendet formalen Grammatiken, führt entsprechende Mutationsoperatoren ein und konstruiert Algorithmen, welche folgendes leisten und damit die o.g. Nachteile des MBMT vermeiden: (1) der Ausschluss der Mutanten, die äquivalent zu dem ursprünglichen Modell sind und der merhrfachen Mutanten, die die gleichen Fehler modellieren; (2) die Erzeugung eines Testfalls in ...
AU  - Beyazıt, Mutlu
DA  - 2014
DP  - Universität Paderborn
LA  - eng
N1  - Tag der Verteidigung: 27.03.2014
N1  - Paderborn, Univ., Diss., 2014
PB  - Veröffentlichungen der Universität
PY  - 2014
T2  - Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
TI  - Exploiting model morphology for event-based testing
UR  - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:hbz:466:2-14062
Y2  - 2025-06-18T15:54:48
ER  -