TY  - THES
AB  - Hochintegrierte Schaltungen können immer kleiner, höher getaktet und energieeffizienter hergestellt werden, allerdings können bedingt durch diese technologischen Trends auch vermehrt Schwachstellen im System entstehen. Diese Schwachstellen führen oft während des Produktionstests nicht zu einem Fehlverhalten der Schaltung, während des Betriebs allerdings droht durch die steigende Anfälligkeit gegenüber intrinsischen und äußeren Störeinflüssen sowie Alterungseffekten ein vorzeitiger Ausfall der Schaltung. Solche Frühausfälle werden „Early-Life Fehler“ genannt und können mit einem Standard- Test ohne weitere Anpassungen nicht erkannt werden. Indikatoren für einen Frühausfall können intermittierende Fehler, aber auch kleine Verzögerungsfehler sein. In dieser Arbeit wird ein Selbsttest vorgestellt, der eine Fehlercharakterisierung zur Erkennung von Systemschwachstellen und Vermeidung von Frühausfällen, speziell solche, die sich als intermittierender Fehler oder kleiner Verzögerungsfehler auswirken, mit geringem Hardware- und Zeitaufwand mittels eines Standard-Tests ermöglicht. Hierzu wird im Selbsttest zunächst zwischen permanenten und nicht-permanenten Fehlern unterschieden und eine Klassifikation der nicht- permanenten Fehler mit Hilfe eines voran geschalteten Diagnoseverfahrens und Bayesschen Berechnungen durchgeführt. Hierdurch lässt sich die Produktqualität ohne zusätzliche Ausbeuteverluste erhöhen. Zusätzlich wird ein Test mit erhöhter Betriebsfrequenz vorgestellt, der im Selbsttest kleine Verzögerungsfehler erkennt.
AU  - Indlekofer, Thomas
CY  - Paderborn
DA  - 2016
DP  - Universität Paderborn
LA  - ger
N1  - Tag der Verteidigung: 03.03.2016
N1  - Fakultät für Elektrotechnik, Informatik und Mathematik der Universität Paderborn, Univ., Dissertation, 2016
PB  - Veröffentlichungen der Universität
PY  - 2016
SP  - 1 Online-Ressource (ix, 144 Seiten)
T2  - Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik
TI  - Fehlercharakterisierung zuverlässiger Schaltungen im Selbsttest
UR  - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:hbz:466:2-24406
Y2  - 2024-12-26T22:34:05
ER  -