TY  - THES
A3  - Maier, Hans-Jürgen
A3  - Grundmeier, Guido
AB  - In der vorliegenden Arbeit wurde die Verformbarkeit dünner Polyelektrolytschichten auf pseudoelastisch verformbaren NiTi-Substraten untersucht. Substratseitig wurden dabei insbesondere phasenumwandlungsinduzierte Topografieausbildungen als mögliche Einflussgröße auf die Defektbildung in applizierten Polyelektrolytfilmen charakterisiert. Polyelektrolytschichten bestehend aus Polyallylaminhydrochlorid (PAH) und Polyacrylsäure (PAA) wurden im Layer by Layer-Verfahren auf Substratoberflächen appliziert. Neben unmodifizierten Filmen wurden auch wärmebehandelte und durch Einbinden von organophilen Schichtsilikaten modifizierte Filme hergestellt. In einem in-situ Versuchsaufbau wurde durch Kombination aus hochauflösender Mikroskopie und pseudoelastischer Substratverformung Defektbildung in den Polyelektrolytfilmen in verschiedenen Umgebungsmedien bestimmt. Die Korrelation mikrostruktureller Substrateigenschaften, der lokalen Dehnungs- und Topografieausbildung und der Schichtdefekte zeigte, dass Filmschädigung vorwiegend durch korn- oder phasengrenzeninduzierte Topografieausbildung unter zyklischen Belastungen entsteht. Aufgrund einer Plastifizierung der Filme durch Wasserabsorption und Assoziation von Salzionen wurde die höchste Verformbarkeit der Polyelektrolytfilme in salzhaltiger Lösung detektiert. Durch Einbinden von organophilen Schichtsilikaten konnte die Verformbarkeit der Polyelektrolytfilme derart verbessert werden, dass unter den gewählten Belastungsparametern keine Defektbildung beobachtet werden konnte.
AU  - Lackmann, Jan
DA  - 2011
DP  - Universität Paderborn
LA  - ger
N1  - Tag der Verteidigung: 20.12.2011
N1  - Paderborn, Univ., Diss., 2011
PB  - Veröffentlichungen der Universität
PY  - 2011
SP  - II, 133 S. : Ill., graph. Darst.
T2  - Institut für Prozess- und Werkstofftechnik
TI  - Phasenumwandlungsinduzierte Topografieentwicklung auf NiTi-Formgedächtnislegierungen: Einfluss auf die Integrität dünner Polyelektrolytbeschichtungen
UR  - https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:hbz:466:2-8304
Y2  - 2026-01-15T08:53:12
ER  -