Eingebauter Selbsttest für kleine Verzögerungsfehler / von M. Sc. Matthias Kampmann ; Erster Gutachter: Prof. Dr. Sybille Hellebrand, Zweiter Gutachter: Prof. Dr. Bernd Becker. Paderborn, 2020
Content
- Einleitung
- Grenzen moderner Testverfahren
- Hochgeschwindigkeitstest als kostengünstige Alternative
- Beitrag dieser Arbeit
- Verzögerungs- und Selbsttest hochintegrierter Schaltungen
- Übergangsfehler
- Testmethoden für Übergangsfehler
- Prüfgerechter Entwurf: Prüfpfadarchitektur
- Prüfpfadbasierte Testmethoden für Verzögerungsfehler
- Eingebetteter deterministischer Test
- Selbsttest
- Test auf kleine Verzögerungsfehler
- Das Modell des kleinen Verzögerungsfehlers
- Qualität eines Verzögerungstests
- Testmustererzeugung für kleine Verzögerungsfehler
- Betriebsfrequenztest und Vielfrequenztest
- Beschränkungen der modernen Testverfahren
- Versteckte Verzögerungsfehler
- Der Hochgeschwindigkeitstest
- Frequenzauswahl für den eingebauten Hochgeschwindigkeitstest
- Anforderungen an die Frequenzauswahl
- Lösungsansätze
- Formalisierung des Problems
- Heuristische Lösungsverfahren
- Ein optimales Verfahren
- Zweistufige optimierte Frequenzauswahl
- Fehlerpartitionierung und Testmusterauswahl
- Simulationsergebnisse
- Ergebnisse der Frequenzauswahl
- Detailanalyse
- Simulation mit erhöhter Maximalfrequenz
- Fehlerpartitionierung und Musterauswahl
- Laufzeitanalyse
- Zusammenfassung und Ausblick
- Prüfgerechter Entwurf für den eingebauten Hochgeschwindigkeitstest
- Motivation
- Optimierte Prüfpfade für den Hochgeschwindigkeitstest
- Übersicht und Formalisierung des Problems
- Bestimmung der X-Profile
- Graph-basierte Prüfzellengruppierung
- Einbettung in den Syntheseablauf
- Adaptive Maskierung für variable X-Raten
- Simulationsergebnisse
- Ergebnisse der inkrementellen Maskierung
- Ergebnisse der Grenzwertmaskierung
- Detailanalyse
- Laufzeitanalyse
- Zusammenfassung
- Zusammenfassung
- Wertetabellen
- Synthetisierte Schaltungen
- Automatisierte Testmustererzeugung
- FAST-Simulation und Frequenzauswahl
- Fehlerpartitionierung und Musterauswahl
- Testdatenauswertung
- Laufzeitanalyse
- Abbildungsverzeichnis
- Tabellenverzeichnis
- Algorithmenverzeichnis
- Abkürzungsverzeichnis
- Literaturverzeichnis
- Betreute Arbeiten
- Eigene Publikationen