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Titelaufnahme
Titel
Application of modern magnetic resonance techniques to the characterization of point defects in semi-insulating III-V semiconductors
Autor
Spaeth, Johann-Martin
Enthalten in
Semi-insulating III - V Materials: Hakone 1986
, Tokyo, 1986, S. 299-304
Entstehung
2009
Sprache
Englisch
Dokumenttyp
Aufsatz in einem Sammelwerk
URN
urn:nbn:de:hbz:466:2-6282
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Nachweis
Universitätsbibliothek Paderborn
IIIF
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Application of modern magnetic resonance techniques to the characterization of point defects in semi-insulating III-V semiconductors
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