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Apparate für die Kältetechnik
In: Chemie Ingenieur Technik, Vol. 51.1979 Issue 11, page 1036-1042
Apparate für die Kältetechnik
In: Chemie Ingenieur Technik, Vol. 60.1988 Issue 11, page 855-858
Apparate für die Kältetechnik
In: Chemie Ingenieur Technik, Vol. 63.1991 Issue 12, page 1175-1177
Apparate für die Kältetechnik
In: Chemie Ingenieur Technik, Vol. 36.1964 Issue 12, page 1254-1256
Apparate für die Kältetechnik
In: Chemie Ingenieur Technik, Vol. 38.1966 Issue 7, page 764-766
Apparate für die Kältetechnik
In: Chemie Ingenieur Technik, Vol. 39.1967 Issue 23, page 1362-1363
Apparate für die Kältetechnik
In: Chemie Ingenieur Technik, Vol. 40.1968 Issue 14, page 704-708
Apparate für die Kältetechnik
In: Chemie Ingenieur Technik, Vol. 42.1970 Issue 23, page 1417-1419
Apparate für die Kältetechnik, Wärmepumpentechnik
In: Chemie Ingenieur Technik, Vol. 57.1985 Issue 11, page 955-959
Apparate für die Kältetechnik, Wärmepumpentechnik
In: Chemie Ingenieur Technik, Vol. 54.1982 Issue 11, page 990-997
Application of hereditary symmetries to nonlinear evolution equations
In: Nonlinear analysis, Vol. 1979, page 849-862

Application of magnetic multiple resonance techniques to the study of point defects in solids
In: Electronic Magnetic Resonance of the Solid State (CSC symposium series : 1 ), Vol. 1987, page 503-519
Application of magnetic multiple resonances to study defects in III-V compounds
In: Crystal Latice Defects and Amorphous Materials, Vol. 1989, page 281-295
Application of magnetic resonance techniques to the study of defects in solids
In: Determination of structural features of crystalline and amorphous solids (Physical methods of chemistry : 5), Vol. 1990, page 433-516

Application of modern magnetic resonance techniques to the characterization of point defects in semi-insulating III-V semiconductors
In: Semi-insulating III - V Materials: Hakone 1986, Vol. 1986, page 299-304
Application of optically detected magnetic resonance to the characterization of point defects in semiconductors
In: International Conference on Defects in Semiconductors : Proceedings of the International Conference on Defects in Semiconductors. (Materials Science Forum 10-12), Vol. 1986, page 505-514
An application of second-order approximations for the green's functions
In: Zeitschrift für Physik, Vol. 1970, page 17-29
Applications of Lie semigroups in analysis
In: The analytical and topological theory of semigroups : trends and developments, Vol. 1990, page 27-50
