Veröffentlichungen der Universität / Physik [221-240]

A new X-ray diffractometer for the online monitoring of epitaxial processes
Kharchenko, Alexander
2003
Einfluß von Gitterverzerrungen auf Anregungsenergien und Hyperfeinparameter paramagnetischer Defekte
Gerstmann, Uwe
2002
The modelling of dislocations in semiconductor crystals
Blumenau, Alexander Thorsten
2002
Optically detected magnetic resonance of arsenic antisite related defects in semi-insulating bulk and low temperature MBE-grown GaAs
Tkach, Igor
2002
The superconductor as model for the hardening stages in a dislocated crystal
Marqués-López, José-Luis
2002
The atomic structure of diamond surfaces and interfaces
Sternberg, Michael
Version: 14. Nov. 2001, 2001
Electron paramagnetic resonance of process induced defects in silicon
Langhanki, Bertram
2001
Entwicklung approximativer Methoden in der zeitabhängigen Dichtefunktionaltheorie
Niehaus, Thomas
2001
Quasi-phasenangepaßte Frequenzkonversion mit periodisch gepolten Ti:LiNbO 3-Wellenleitern
Schreiber, Gerhard
2001
Strahlendefekte in Siliziumkarbid
Untersuchungen mit optisch detektierter Elektronen-paramagnetischer Resonanz
Lingner, Thomas
2001
Energiedispersive Röntgenbeugungsuntersuchungen an einigen Laves-Phasen unter hohem Druck
Reiß, Gerhard
2000
EPR-induced charge transport in highly doped crystalline n-type silicon carbide
Grasa Molina, María Isabel
2000
Flache Donatoren in Galliumnitrid
optisch detektierte, paramagnetische Resonanz unter hohem Druck
Michael, Karsten
2000
Hochauflösende Röntgenabsorptionsspektroskopie an vierwertigen Seltene-Erdsystemen
Dumschat, Jens
2000
Hochdruckuntersuchungen zum Magnetismus in intermetallischen und oxidischen Verbindungen mit 151 Eu/155 Gd-Mössbauereffekt und Transportmessungen
Strecker, Matthias
2000
Magnetism and lattice dynamics under high pressure studied by nuclear resonant scattering of synchrotron radiation
Lübbers, Rainer
2000
Physics and current understanding of x-ray storage phosphors
Schweizer, Stefan
2000
Structure and physical properties of silicon clusters and of vacancy clusters in bulk silicon
Sieck, Alexander
2000
Theoretische Untersuchung von komplexen GaAs-Strukturen
Haugk, Michael
1999
Surfaces and extended defects in Wurtzite GaN
Elsner, Joachim
1998
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A new X-ray diffractometer for the online monitoring of epitaxial processes

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Hochdruckuntersuchungen zum Magnetismus in intermetallischen und oxidischen Verbindungen mit 151 Eu/155 Gd-Mössbauereffekt und Transportmessungen

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Structure and physical properties of silicon clusters and of vacancy clusters in bulk silicon

Theoretische Untersuchung von komplexen GaAs-Strukturen

Surfaces and extended defects in Wurtzite GaN