Analyse der Ergebnisse eines Sachrechentests am Ende des 4. Schuljahres
In: Sachunterricht und Mathematik in der Primarstufe, Vol. 8.1980, page 150-155
Analyse fonctionnelle
sur les mesures de Jensen supportées par une frontière plus fine que la frontière de ChilovIn: Comptes rendus hebdomadaires des séances de l'Académie des Sciences, Vol. 274.1972, page 1809-1812Anschauliche Geometrie /
7, Lösungen : Anschauliche Geometrie1. Aufl., München : Ehrenwirth, 2001Anschauliche Geometrie /
7, Hauptbd. : Anschauliche Geometrie6. Aufl. R, München : Ehrenwirth, 2001Anschauliches Beweisen im Geometrie-Unterricht
unter besonderer Berücksichtigung von (stetigen) Bewegungen bzw. VerformungenIn: Anschauliches Beweisen, Vol. 1989, page 95-145Anwendungen der HPLC in der Naturstoffchemie
Strukturaufklärung von Chlorobium-BacteriochlorophyllenIn: 2. Deutsche Diskussionstagung für Anwender der Hochdruck-Flüssigkeits-Chromatographie, Vol. 1977, page 118-125Application of hereditary symmetries to nonlinear evolution equations
In: Nonlinear analysis, Vol. 1979, page 849-862Application of magnetic multiple resonance techniques to the study of point defects in solids
In: Electronic Magnetic Resonance of the Solid State (CSC symposium series : 1 ), Vol. 1987, page 503-519Application of magnetic multiple resonances to study defects in III-V compounds
In: Crystal Latice Defects and Amorphous Materials, Vol. 1989, page 281-295Application of magnetic resonance techniques to the study of defects in solids
In: Determination of structural features of crystalline and amorphous solids (Physical methods of chemistry : 5), Vol. 1990, page 433-516Application of modern magnetic resonance techniques to the characterization of point defects in semi-insulating III-V semiconductors
In: Semi-insulating III - V Materials: Hakone 1986, Vol. 1986, page 299-304Application of optically detected magnetic resonance to the characterization of point defects in semiconductors
In: International Conference on Defects in Semiconductors : Proceedings of the International Conference on Defects in Semiconductors. (Materials Science Forum 10-12), Vol. 1986, page 505-514An application of second-order approximations for the green's functions
In: Zeitschrift für Physik, Vol. 1970, page 17-29Applications of Lie semigroups in analysis
In: The analytical and topological theory of semigroups : trends and developments, Vol. 1990, page 27-50